浅谈测径仪的光学的几何原理及波动原理：

　　测径仪大至分激光扫描测径仪，CCD投影测径仪，激光衍射测径仪，其中前两者都属光学的几何原理，后者为利用光学的波动原理。

　　激光扫描测径仪，这也是用得较多的一种，在国外以beta公司开发较早，而国内以辉煌测控公司开发相关设备较早，他利用旋转的八面镜将射来的激光形成扫描带，扫描带再扫描被测物体形成投影，其投影宽度可以通过光电管接收并测量得来。测径仪主要适合大直径测量，据有精度高的特点，目前辉煌相关产品精度最高可达0.5um，小直径测量由于其光斑本身比被物大，且产生干涉衍射现象，不容易较好的测量，但据说辉煌也有相关的细丝测径仪，也是利用扫描测量原理。

　　CCD投影测量径仪，由于电机速度毕竟有限，而且扫描的平行光带不太容易保证，再加上现在平行光管与CCD的技术的发展，现在很多企业开始采用CCD成像法测量直径，在国内以上海欧列在这方面做得较早，其光源采用波长较长的红外光，抗干扰较强，由于少了许多机械件，所以设备较稳定可靠，但CCD成像受相素的制约，在精度上不太容易拓展，特别是大直径的物体测量，但又不能太细，太细会有扫描测径仪相同的问题。

　　激光衍射测径仪，利用衍射原理测量细线的直径，目前这项技术在国内仅辉煌测控一家，而且据说都是引进的德国的技术，此技术与前两项刚好相反，只适用于测小直径的细丝，而且越细越好，因为此技术是利用衍射原理，理论只有当波长与被测物相近或大于被测长物时衍射最明显。目前辉煌的的产品在测量5um到300um的细丝是没问题的，据说可以测量到500um。其精度由于限于标准样件和测试环境的影响，现在只有0.2um左右，但其重复精度相当高，所以只要有标准样件和良好的测试环境，精度是可以再次大提高的，这也是细丝测径仪的一个发展方向。

　　本文信息由东莞市和而泰电子科技有限公司提供，想了解更多测径仪,高频预热器,静电容的信息，可登陆：http://www.dgctek.com